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微米尺度空間分辨率LIBS測試系統—MEEPLIBS

簡要描述:MEEPLIBS可以在微米尺度上做空間分辨的元素分析,實現了與傳統的顯微鏡實現*結合,標準分析口徑大小為15微米和18微米(Z小可做到4微米),可在室溫大氣環境中測試,也可在特定的環境中測試。
廣泛應用于半導體材料、面板材料的微米尺度空間分辨率的實時元素分析。http://www.teo.com.cn/templates/jinxianfeng_001/second_134.html

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-10-15
  • 訪  問  量:2127
詳細介紹

微米尺度空間分辨率LIBS測試系統—MEEPLIBS
MEEPLIBS可以在微米尺度上做空間分辨的元素分析,實現了與傳統的顯微鏡實現*結合,標準分析口徑大小為15微米和18微米(zui小可做到4微米),可在室溫大氣環境中測試,也可在特定的環境中測試。
廣泛應用于半導體材料、面板材料的微米尺度空間分辨率的實時元素分析。
  系統特點:
光源:266nm紫外激光光源
具有配衰減器的激光光束整形功能,激光功率軟件可調
可實現探測系統的自動溫控
系統中配置攝像機,用戶可實時觀測測試的樣品區域
配置電動三維調節臺用來校準激光聚焦位置、提高實驗可重復性精度,可對樣品進行序列測量
能分析測量包括質量zui輕的所有元素
無須樣品預處理,快速檢測
 

 


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