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OLED-IVL及視角測量系統

簡要描述:OLED-IVL及視角測量系統,是集成PR系列成像亮度計、源表、CCD精準對位以及多軸高精度運動機構的一整套測試方案。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-10-16
  • 訪  問  量:366
詳細介紹
品牌ZOLIX/卓立漢光產地類別國產
應用領域綜合

OLED-IVL及視角測量系統,是集成PR系列成像亮度計、源表、CCD精準對位以及多軸高精度運動機構的一整套測試方案。該系列設備具有4款標準機型,可滿足客戶IVL測試時單工位、多工位、變溫以及帶視角測量等的不同測試需求。為廣大用戶在OLED器件研發與生產測試環節提供了便捷性與可靠性。

1、OLED-IVL及視角測量系統主要測試參數

·       IVL曲線繪制:IV曲線、電流密度、電流-亮度曲線、光效曲線、電流效率、流明效率

·       光學參數:亮度、XYZ三刺激值、CIE1931色坐標x,y、CIE1976色坐標u’ v’、峰值波長、光譜輻射度數據、CCT、EQE等

·       電學參數:電流、電壓、功率等

2、標準機型

2.1單工位緊湊型OLED器件IVL及視角測量系統(OLED-IVL-Mini-M/A)

OLED-IVL及視角測量系統 

·       經濟實用型的科研/研發階段OLED器件IVL測試系統

·       適用于對空間要求嚴格的測量場景,可放置于手套箱用于未封裝器件使用。

·       可集成轉臺測量視角,可集成EQE積分球。

·       可按照需求定制測試距離兼容近攝頭及MS-75標準鏡頭。支持治具的靈活定制與切換。

·       手動測量版和全自動測量版本可選。

OLED-IVL及視角測量系統
積分球(選配)

測量原理:

OLED-IVL及視角測量系統 

2.2單工位OLED器件IVL及視角測量系統(OLED-IVL-LAB )

OLED-IVL及視角測量系統 

·       主要用于實驗室科研或者產品研發階段的IVL測試。

·       可拓展成多工位機型,也可取消預留工位從而做小型化設計。

·       滿足器件高低溫IVL的測試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制,特殊溫度可定制。

·       滿足器件不同視角的測試。視角測量范圍最大可支持±90°,視角分辨率可達0.1°。

·       配備完整的視覺相機,可有效確保檢測中心與產品中心一致。

·       運動直線模組重復精度為±0.01mm,旋轉模組重復定位精度±0.1°,有效提高測試過程中的對位效率,提高準確性。

檢測原理

OLED-IVL及視角測量系統 

2.3多工位帶視角OLED器件IVL測量系統(OLED-IVL-FA )

OLED-IVL及視角測量系統 

·       系統配備多通道源表,可支持多工位測量(可根據具體器件和發光點數量定制)。

·       滿足器件高低溫IVL的測試。溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制,特殊溫度可定制。

·       滿足器件不同視角的測試。視角測量范圍最大可支持±90°,視角分辨率可達0.1°。

·       配備完整的視覺相機,可有效確保檢測中心與產品中心一致。

·       運動直線模組重復精度為±0.01mm,旋轉模組重復定位精度±0.1°,有效提高測試過程中的對位效率,提高準確性。

OLED-IVL及視角測量系統
多工位旋轉治具

測試原理

OLED-IVL及視角測量系統 

2.4多工位OLED器件IVL綜合測量系統(OLED-IVL-FA-PRO )

OLED-IVL及視角測量系統 

系統特點:

·       系統配備多通道源表,可支持多工位測量(可根據具體器件和發光點數量定制)。

·       同時配備多組治具,支持常溫、高低溫、不同角度的多種需求混合測試。

·       溫度治具滿足-20℃-120℃變溫控制,特殊溫度可定制。

·       視角測量范圍最大可支持±90°,視角分辨率可達0.1°。

·       配備完整的視覺相機,可有效確保檢測中心與產品中心一致。

·       運動直線模組重復精度為±0.01mm,旋轉模組重復定位精度±0.1°,有效提高測試過程中的對位效率,提高準確性。

OLED-IVL及視角測量系統 

測試原理:

OLED-IVL及視角測量系統 

 

3、標準軟件

IVL測試主界面

OLED-IVL及視角測量系統 

手動界面

OLED-IVL及視角測量系統 

光譜圖

OLED-IVL及視角測量系統 

CIE

OLED-IVL及視角測量系統 

IVL曲線

OLED-IVL及視角測量系統 

 


 


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