SPM600 系列半導體參數分析儀是一款專用于半導體材料光電測試的系統。其功能全面,提供多種重要參數測試。系統集成高精度光譜掃描,光電流掃描以及光響應速率測試。40μm 探測光斑,實現百微米級探測器的絕對光譜響應度測量。超高穩定性光源支持長時間的連續測試,豐富的光源選擇以及多層光學光路設計可擴展多路光源,例如超連續白光激光器,皮秒脈沖激光器,半導體激光器,鹵素燈,氙燈等,滿足不同探測器測試功能的要求。是半導體微納器件研究的優選。
功能:
■ 光譜響應度
■ 單色光/變功率IV;
■ 不同輻照度IT曲線(分辨率200ms)
■ 不同偏壓下的IT曲線
■ LBIC,Mapping
■ 線性度測試
■ 響應速率測試
■ 瞬態光電壓(載流 子遷移率)
■ 瞬態光電流(載流子擴散長度)
光源選項
卓立漢光根據樣品光譜相應范圍選擇適合的光源,如EQ 光源,氙燈光源,氙燈溴鎢燈復合光源。
EQ光源
特點:■ 光譜范圍寬:190-1700nm寬光譜范圍;■ 光源本身發光點小,百微米級別;
■ 紫外波段亮度高;
■ 壽命長,理論壽命可達9000h;
■ 體積小,重量輕;散熱好;
氙燈光源
特點:
■ 光譜范圍寬:250-1700nm寬光譜范圍;
■ 光源本身發光點較小,mm級別;
■ 總功率大,亮度高;適合紫外-可見-近紅外光譜測試;
■ 燈泡更換簡單,成本低;
氙燈鹵素燈雙光源
特點:
■ 光譜范圍:250-2500nm■ 適合紫外、可見、近紅外,且可見、近紅外波段光譜平滑
■ 燈泡更換簡單,成本低。
數采選項
測試案例