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激光能量計探頭

簡要描述:激光能量計探頭包括光電二管及熱釋電能量計探頭,技術RP探頭,可同時測量平均功率,脈沖能量,重復頻率以及脈沖波形;用于高占空比、高平均功率、高脈沖能量激光測量。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2024-10-15
  • 訪  問  量:4250
詳細介紹
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激光能量計探頭

光電二管及熱釋電能量計探頭

 

        高靈敏光電二管探頭及多款熱釋電探頭;

        zui快測量頻率25kHz,zui低測量能量10pJ;

        提供激光分光鏡片、真空適配器、光纖適配器等附件;

 

 激光能量計探頭產品資料: 

 

產品型號 產品特點 探頭口徑 波長范圍 能量范圍 zui大頻率
PD10 nJ級硅光電探頭 Φ10mm 0.19-1.1um 2nJ-20uJ 10kHz
PD10-pJ pJ級硅光電探頭 Φ10mm 0.2-1.1um 10pJ-200nJ 10kHz
PD10-IR-pJ pJ級鍺光電探頭 Φ5mm 0.7-1.8um 30pJ-20nJ 10kHz
PE9 熱釋電超高靈敏能量探頭 Φ8mm 0.15-12um 0.2uJ-1mJ 4000Hz
PE9-F 25kHz快速響應探頭 Φ8mm 0.15-12um 0.3uJ-1mJ 25kHz
PE10 熱釋電高靈敏能量探頭 Φ12mm 0.15-12um 2uJ-10mJ 4000Hz
PE10BB Broadband寬光譜探頭 Φ12mm 0.15-12um 10uJ-10mJ 150Hz
PE25 中等口徑探頭 24×24mm 0.15-3um 15uJ-10J 5000Hz
PE25BF 高損傷閾值探頭 Φ24mm 0.15-3um 100uJ-10J 150Hz
PE50 大口徑探頭 Φ46mm 0.15-3um 25uJ-10J 4000Hz
PE50BF 高損傷閾值探頭 Φ46mm 0.15-3um 150uJ-10J 120Hz
PE50-DIF

快速響應,高損傷閾值,

寬光譜范圍

Φ35mm 0.19-3um 50uJ-10J 3000Hz
PE25BF-DIF

高能量密度激光測試

Φ20mm

0.19-2.2um

200uJ-20J 150Hz
PE25-DIF 快速響應,高損傷閾值 Φ20mm 0.4-2.5 150uJ-20J 2500Hz
PE50BB-DIF

可拆卸diffuser,高損傷閾值,

寬光譜范圍

Φ46mm

Φ33mm with

diffuser

0.19-20um

0.4-2.5um with

diffuser

100uJ-40J 40Hz
PE50DIF-ER

可拆卸diffuser,高損傷閾值

Φ46mm

Φ33mm with

diffuser

0.19-3um

0.4-3um with

diffuser

60uJ-30J 400Hz
PE50BF-DIF

大口徑,高能量密度激光測試

Φ35mm

0.19-2.2um,2.94um

200uJ-20J 120Hz
PE100BF-DIF

超大口徑,可拆卸diffuser,

高損傷閾值,寬光譜范圍

Φ96mm

Φ85mm with

diffuser

0.15-3um

0.4-2.5um with

diffuser

2mJ-40J 20Hz
PE50-HD 193nm高損傷閾值 Φ46mm 193nm 0.5mJ-10J 100Hz

 

 

技術RP探頭

        可同時測量平均功率,脈沖能量,重復頻率以及脈沖波形;

        用于高占空比、高平均功率、高脈沖能量激光測量;

 

產品資料:

 

產品型號 產品特點 探頭口徑 波長范圍 平均功率范圍 zui大頻率
30A-P-RP 平均功率30W通用型 Φ17mm 0.19-6um 30mW-30W 15kHz
FL250A-RP 長脈沖激光,平均功率達250W Φ50mm 0.19-6um 100mW-250W 15kHz
L1500W-LP1-RP 用于工業YAG激光 Φ50mm 0.6-1.1um 10W-1500W 15kHz

 

     光電探頭
  光電二極管原理:光電二極管的核心部分是個PN結,當在PN結加上適當反向電壓時,由于缺乏載流子,PN結內無電流通過。當光子照射在PN結上時,電子或空穴擺脫束縛,在PN結內形成光生載流子,光生載流子在電場的作用下產生漂移而形成電流,電流的大小和入射光的能量成比例。
  熱電堆探頭
  熱電堆原理:熱電堆功率計就是利用當激光被探頭表面的膜層吸收掉轉化成熱量,熱量向熱電偶傳遞并形成溫度梯度場,熱電堆探頭內外兩個節點由于溫度差產生溫差電動勢,電動勢的大小與入射光轉化的熱量成比例。
  熱釋電探頭
  熱釋電原理:當某些晶體受熱時,晶體就會產生極化現象,使晶體兩端產生極化電荷,在晶體的兩端鍍上金屬層,構成了一個電容器。則在溫度梯度作用下,極化的電荷集結在電容器的兩端,產生電壓信號。電壓信號與探測器膜層吸收光轉化的熱量形成的溫度梯度成正比。熱釋電探頭不適合探測連續或長脈寬的激光,因為電容器的存儲的電荷容易飽和。

 


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