Model 234/302 真空紫外單色儀 特點: 1.帶像差校正的光學系統 2.配CCD或者MCP做紫外成像光譜儀 3. 高光通量,F/4.5 4.可選項-多端口 5.可選項-超高真空度 6.結構緊湊、重量輕、成本低 234/302是一款緊湊的多功能真空紫外單色儀。13" x 13" x 10"的尺寸,25磅的重量,使這款儀器可以固定在一個真空等離子物理裝置上,也可以裝到一個更大的設備上用做可變濾波器。234/302既可做VUV掃描單色儀,也可做光譜儀,配上CCD相機或者MCP又可做光譜成像。配上多端口的選項,甚至可以同時作為掃描單色儀和成像光譜儀使用。 234/302的光路設計是基于Seya-Namioka結構,通過旋轉光柵即可改變輸出波長。 標準配置采用一個IV型的帶像差校正的1200g/mm凹面光柵,以獲得*的光學性能。另有一系列光柵可選:從2400g/mm到300g/mm。光柵的旋轉是通過數字步進電機Model 789A-3來控制的。 用戶可將儀器直接安裝到樣品室上。狹縫處的固定裝置可以支撐整個儀器的重量。因為有緊湊的結構、高的光通量和高的分辨率等一系列優點,234/302在相關領域應用的非常廣泛。
Model 234/302 技術參數(200mm焦距, f/4.5) 焦距 200-mm, 改進的Seya-Namioka 光路結構 狹縫間工作距離 9’’ (229mm) 出入射光束間夾角 64°或者180°可選 f / #. 4.5 光柵尺寸 40 x 45mm 波長精度 +/-0.10 nm (使用1200 G/mm光柵) 波長重復性 +/- 0.05 nm(使用1200 G/mm光柵) 焦平面 zui寬25mm,傾斜角約 30° 波長范圍 跟所選光柵有關
Model 234/302性能(選用不同光柵) 光柵刻線 (G/mm) (其它亦可提供) 2400 1800 1200 600 300 波長范圍從30nm 到 275nm 365nm 550nm 1,100um 2,200um 分辨率@313.1nm 0.06 0.08 0.1 0.2 0.3 線色散倒數(nm/mm) 2 3 4 8 16
操作模式 CCD 探測 / 焦平面陣列。 234/302使用的像差校正光柵會產生一個焦平面,可配合MCP或者直接探測的CCD相機使用。焦平面位于法線的25°角方向。請廠家了解如何配置一個深紫外或者真空紫外的成像光譜儀。234/302保證了一個潔凈的無污染的操作環境。 類似的真空紫外系統用于激光閃爍體,以及其它的熒光或磷光材料。也可以用于等離子體診斷以及高次諧波實驗中。 超高真空& 無污染。 234/304全金屬密封的結構可以提供10 -10 Torr的真空度。裝運前會進行殘余氣體分析。這些超高真空的設備污染級別可降到zui低。 雙色散&低雜散光。 234/302可做為雙單色儀。機械上相連的結構有助于實現*的光柵掃描。在真空度10^-6Torr和超高真空(全金屬密封)10^-10Torr的型號中都有這種雙單色儀結構。