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Moxtek公司生產的Si-PIN探測器基于公司超低噪聲的JFET電路及優異的鈹窗技術研制而成,主要應用于手持式或臺式X射線熒光光譜儀中,作為能量分辨的探測器。 XPIN-XT探測器主要技術指標有效探測面積:6 mm2 、 13 mm2硅片厚度:450um、625um鈹窗厚度:8um、25um準直器材料:W/Co/Ti/Al能量分辨率:6 mm2 < 170eV FWHM 13 mm2: < 230eV FWHM峰背比:6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical) 13mm2: 3000/1 @1keV (typical)型號的選擇
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