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棱鏡耦合測試儀的特性及應用領域介紹

更新更新時間:2021-12-15 點擊次數:890
   棱鏡耦合測試儀主要是用于電解質和聚合物膜的厚度、折射率和波導參數的快速測量。適用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜,在干涉條紋產生的基礎上通過改變角度產生干涉條紋(VAMFO-變角度單色條紋觀測)的方法。
  
  對于厚膜折射率的測量,單色光被直接照射到被測樣品上,這樣,從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發生變化,光的入射角也會發生變化。在這種技術中,薄膜厚度是由兩個干涉小值的角的位置計算出來的。對于這種測量條件——薄膜具有兩個或兩個以上的干擾小值——薄膜厚度必須大于低脫粒率,通常為2微米。樣品夾持機采用真空從背面支撐樣品,安裝方便簡單??蓽y量薄膜/基底的類型,硅襯底上幾乎任何透明或半透明材料的氧化物、氮化物、介質、聚合物或薄膜。可測量的薄膜/襯底類型:氧化物、氮化物、介電材料、聚合物、或硅襯底上幾乎任何透明或半透明材料的薄膜。
  
  一、棱鏡耦合測試儀的特性:
  1、薄膜及波導折射率/厚度測量,包括梯度折射率的測量;
  2、體材料折射率的測量;
  3、薄膜及體材料的雙折射測量;
  4、移動光纖測試波導損耗;
  5、雙層薄膜測量(甚至在波長1310nm或1550nm處有幾個~?厚度);
  6、不相關的薄膜/基板組合;
  7、無需預先知識,操作簡單;
  8、批量或基板材料的準確測量;
  
  二、主要應用領域:
  1、光波導器件;
  2、激光晶體材料;
  3、聚合物材料;
  4、顯示技術材料;
  5、光/磁存儲材料;
  6、光學薄膜。

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