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ElFys黑硅光電探測器應用介紹ElFys提供一系列高性能黑硅光電二極管。該光電探測器是通過采用表面納米結構技術與原子層沉積涂層相結合，大大提高了光收集效率。在200nm至950nm范圍內具有光響應，外量子效率≥96%（通過德國國家計量研究院PTB認證）。此光電探測器在紫外波段也同樣具有*的量子效率，比普通的硅光電二極管高出兩倍以上。黑硅表面與定制的原子層沉積涂層相結合，極大地提高了感應角度范圍內的表面吸收率，具有*吸光度的超寬感應角度（95%@60°）ElFys提供SM和PD兩大系列的標準產品，也可以針對...
2021 12-10
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使用膜厚測量儀時，需要注意哪些事項？膜厚測量儀屬于一種常見的薄膜厚度測量儀器，在日常生活以及工業制造中都可以看見它的身影，膜厚主要對各種薄膜的厚度進行測定，測量速度快、精度高，在薄膜制造業有著很重要的應用。除此之外，它還具有作業位置靈活、數據輸出、測量單位自動轉換等特性，更是方便了人們的測量工作。這種儀器在行業當中的zhi名度很高，有著非常重要的作用，它可以測試金屬以及其他各種材料的厚度，現如今被廣泛的運用在化工，冶金、造船、石油、航天等領域當中，能給人們的生活帶來很大的幫助。同時它在特點方面也非常突出，比如擁...
2021 12-9
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光纖光譜儀的工作原理和特點分析光纖光譜儀屬于光譜儀一種常用類型，具有靈敏度高、操作簡便、使用靈活、穩定性好、度高等優點。光纖光譜儀工作原理：光纖光譜儀結構緊湊，包括入射狹縫、準直物鏡、光柵、成像反射鏡、濾色片和陣列探測器，還包括數據采集系統和數據處理系統。光信號經入射狹縫投射到準直物鏡上，將發散光變成準平行光反射到光柵上，色散后經成像反射鏡將光譜呈在陣列接收器的接收面上，形成光譜譜面。光譜譜面既是單色光的序列排布(有次光譜影響)，讓整個光譜中任一個微小譜帶照射到相對應探測器的像元上，在此將光信號轉換成電子...
2021 12-7
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走過路過，激光M2因子分析儀的這些優點不能錯過激光M2因子分析儀其物理實質是將實際激光光束與標準基模高斯光束（TEM00）進行比較，反映實際激光光束與標準基模高斯光束（TEM00）的接近程度。儀器在工作過程中造束腰透鏡和相機位置固定，通過兩片反光鏡在光學導軌上的自動移動，相機就可以的捕捉到從近場到遠場不同位置的激光光斑，再通過軟件進行數據分析與計算，從而得到M2值、發散角、束腰大小等參數。Spiricon采用了的Ultracal基線校準技術，從而可以有效去除環境噪聲，得到準確的數據。它是一款符合ISO標準的M2測量設備，...
2021 11-20
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帶通濾光片的原理及方向帶通濾光片，一般的濾光片包括長波通濾光片，短波通濾光片等。濾光片是用來選取所需輻射波段的光學器件。濾光片的一個共性，就是沒有任何濾光片能讓天體的成像變得更明亮，因為所有的濾光片都會吸收某些波長，從而使物體變得更暗。帶通濾光片是通過在基底表面沉積多層光學材料制備而成的。通常情況下，多個介質膜堆由間隔層隔開。介質膜堆由大量高折射率和低折射率的介質材料層交替組成。介質膜堆中每層膜的厚度為λ/4，其中，λ為濾光片的中心波長(即濾光片最大透過率處對應的波長)。間隔層位于介質膜堆之間，厚...
2021 10-18
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帶通濾光片和窄帶濾光片兩者有何區別？相信會有很多對光學行業不是很懂的小伙伴，都應該會很好奇帶通濾光片和窄帶濾光片之間有什么區別吧？所以大家都會產生一些疑問，這兩者的區別究竟在哪里呢？下面小編就來給大家答疑解惑吧！1、首先我們先一起來看看窄帶濾光片的特點吧！它主要是采用全介質硬膜鍍膜的技術和介質干涉的原理。在凸顯窄帶濾光片特性的基礎上，光學性能與基片厚度無關，窄帶濾光片更便于內置儀器成像系統里面。使之光學性能得以提升和有效應用，采用特殊的光學材料基底，解決傳統意義上吸收型合成玻璃易發霉及光學性能不穩定等問題，產品...
2021 9-27
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快來瞅瞅到底是紅外探測器到底有哪些用處吧！講紅外探測器之前，我們先來看看紅外線是什么？它是一種人類肉眼看不見的光，所以，它具有光的一切光線的所有特性。但同時，紅外線還有一種還具有非常顯著的熱效應。所有高于絕對零度即－273℃的物質都可以產生紅外線。紅外線和可見光一樣都是電磁波，因此也具有可見光的一般性質，如遵從反射和折射定律；存在著干涉、衍射和偏振及介質中的吸收和散射現象。由于電磁波具有波粒二象性，所以紅外線還以光子形式存在。一、從目前應用的情況來看，它有如下幾個優點：1、環境適應性優于可見光，尤其是在夜間和惡劣天候...
2021 9-17
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關于棱鏡耦合測試儀你的了解有多少？棱鏡耦合測試儀：可以提供精確的、非接觸、無損膜厚度測量，適用于薄膜厚度在2-100µm的聚合物材料、硅基氧化膜、硅基玻璃膜，在干涉條紋產生的基礎上通過改變角度產生干涉條紋（VAMFO-變角度單色條紋觀測）的方法。對于厚膜折射率的測量，單色光被直接照射到被測樣品上，這樣，從薄膜表面反射回來的光的干涉小值就會發生變化，光的入射角也會發生變化。在這種技術中，薄膜厚度是由兩個干涉小值的角的位置計算出來的。對于這種測量條件——薄膜具有兩個或兩個以上的干擾小值——薄膜厚度必須...
2021 8-28
